Техническая фирма MKS Instruments представляет новую систему измерения лазерных лучей в инфракрасном диапазоне длин волн

Технологическая компания MKS Instruments недавно представила Ophir BeamWatch Plus, новую систему бесконтактного профилирования луча для измерения смещения фокуса, размера фокуса и положения мощных промышленных лазеров, работающих в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах.
Image BeamWatch Plus представляет собой второе поколение систем, представленных в области лазерной фотоники, и теперь может измерять мощные лазеры в видимом диапазоне длин волн (420-635 нанометров), в основном зеленые и синие лазеры, а также в ближнем инфракрасном диапазоне. область (950-1,100 нм).
Разработанный для использования с мощными YAG, волоконными и диодными лазерами, используемыми в промышленных приложениях по обработке материалов, BeamWatch Plus идеально подходит для операций сварки и резки в области обработки материалов и автомобильных приложений, таких как медная сварка аккумуляторных элементов и сварка шпилек.
Система использует рэлеевское рассеяние, индуцированное лучом, для непрерывных измерений. Это обеспечивает мгновенные показания размера фокального пятна, положения луча и фокальной дисперсии полного луча, а также динамические измерения положения фокальной плоскости во время запуска процесса. Измерения луча производятся через частые промежутки времени без необходимости останавливать процесс или удалять обширные инструменты и приспособления.
«Поскольку нет контакта с лазерным лучом, BeamWatch Plus не имеет ограничений по мощности», — сказал Реувен Сильверман, генеральный менеджер Ophir Photonics. «Он был успешно использован для мощных лазеров без ограничения мощности при тестировании до 100 киловатт. Обычные системы измерения луча помещают зонды в луч, что приводит к потенциальному повреждению и замедляет процесс измерения до двух минут для сбора данных и определения характеристик. луч.BeamWatch Plus обеспечивает мгновенное считывание размера фокального пятна и положения луча, а также динамические измерения положения фокальной плоскости во время запуска процесса».
Система профилирования BeamWatch Plus оснащена оптикой с большим увеличением для измерения лучей с размером пятна до 45 м. BeamWatch Plus также способен измерять лучи с размером пятна до 45 м. Это позволяет выполнять более мелкие и точные разрезы с меньшими потерями материала. Положение фокуса можно измерять несколько раз в секунду, чтобы отслеживать, есть ли смещение фокуса в критические моменты запуска. Система предлагает измерение по двум осям, что позволяет пользователю видеть лазерный луч с двух ортогональных осей. Измерения рассчитываются по каждой оси, предоставляя подробную информацию о том, как работает лазер. Смещение фокуса можно отслеживать по обеим осям, а измерения можно использовать для определения округлости луча или наличия астигматизма.
Его программное обеспечение точно анализирует изображения, полученные с помощью лазерного рэлеевского рассеяния, в режиме реального времени. Расчеты включают размер и положение перетяжки луча, смещение фокуса, M2, расхождение и другие параметры качества. Ключевые параметры производительности лазера сравниваются с предустановленными диапазонами, чтобы получить показания «годен/не годен», поэтому пользователи лазера знают, когда нужно предпринять корректирующие действия. Программное обеспечение также включает автоматизированные интерфейсы управления для системной интеграции.